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EIAJESD78A-2006闩锁测试方法-20090513
在电子元件的可靠性评估中，闩锁效应（Latch-up）是一个关键问题。它指的是在CMOS集成电路中，由于寄生晶体管结构的存在，当器件受到过电压
2025年06月29日 16:26:24
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在电子元件的可靠性评估中，闩锁效应（Latch-up）是一个关键问题。它指的是在CMOS集成电路中，由于寄生晶体管结构的存在，当器件受到过电压
